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产品名称：X射线膜厚测量仪XRF-2000L型
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产品报价：
产品特点：X射线荧光镀层测厚仪无损膜厚仪检测电子电镀,化学电镀层厚度,测量镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀锌镍,镀锡...可测单层,双层,多层,合金镀层X射线膜厚测量仪XRF-2000L型
X射线膜厚测量仪XRF-2000L型的详细资料：
X射线膜厚测量仪XRF-2000L型
韩国MicroP XRF-2020
应用：
1. 采用X射线荧光光谱法无损测量金属镀层厚度,单镀层,双镀层,多镀层及合金镀层不限基材！
1. 镀层元素范围：钛～铀，包含常见的金、镍、铜、银、锡、锌、金，铬，锌镍合金等。
2. 镀层层数：可测5层。
3. 测量产品位置尺寸：标准配备0.2mm准直器,测量产品大于0.4mm(可订制更小准直器)
4. 测量时间：15秒。
5. 测量误差：小于5%，视样品具体情况而定。
6. 可测厚度范围：0.02微米到50微米，视样品组成和镀层结构而定。
X射线荧光镀层测厚仪无损膜厚仪
仪器规格
XRF-2020L型:测量样品长宽55cm,高3cm:台面载重3kg
XRF-2020H型:测量样品长宽55cm,高10cm:台载重5kg
仪器全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量
多个准直器可选择：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm
可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换
Microp XRF-2020测厚仪(韩国微先锋）
快速无损测量镀金，镀银，镀锡，镀银，镀镍，镀铜，镀锌镍合金等！
测量原理：
物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。
测试范围
镀金：0.02-6um
镀钯：0.03-6um
镀镍：0.5-30um
镀锡：0.3-50um
镀银：0.1-50um
镀铬：0.5-30um
镀锌：0.5-30um
镀锌镍合金：0.5-30um
X射线膜厚测量仪XRF-2000L型号已升级为XRF-2020
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