x射线镀层测厚仪_x-ray_xrf-2000_x荧光镀层测厚仪-上海精诚兴仪器仪表有限公司

膜厚测量仪标准片X-RAY测厚仪校正片

应用于测厚仪校正及应用程序添加

XRF-2000测厚仪标准片：金,镍,铜,锌,铬,锡,银,锌镍合金等

各镀种标片及范围通用于所有品牌测厚仪

标准片均附带证书

标准片X射线镀层测厚仪校正片（通用型）

适合各种X射线镀层测厚仪

测厚仪标准片又名膜厚仪校准片，专业用于X射线测厚仪在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法，是测量已知厚度或组成的标准样品，根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。以此标准曲线来测量镀层样品，以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。

XRF-2000测厚仪标准片

如下图所示

测厚仪标准片韩国XRF膜厚仪校正片

标准片所有X射线测厚仪通用

铜，镍，锌，铬，金，锡，银，锌镍合金:各种规格厚度标准片均有

X-RAY膜厚仪标准片XRF-2020校正片

如上图

膜厚测量仪标准片X-RAY测厚仪校正片

提供金,镍,铜,锌,铬,锡,银,锌镍合金等标准片

各种规格及厚度范围匀可订制。

适应不同品牌镀层测厚仪，标准片通用！