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产品名称：X射线荧光镀层测厚仪无损膜厚仪
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产品特点：X射线荧光镀层测厚仪无损膜厚仪检测电子电镀,化学电镀层厚度,测量镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀锌镍,镀锡...可测单层,双层,多层,合金镀层XRF-2020L电镀测厚仪膜厚仪
X射线荧光镀层测厚仪无损膜厚仪的详细资料：
X射线荧光镀层测厚仪无损膜厚仪
韩国MicroP XRF-2020
X射线荧光镀层测厚仪无损膜厚仪
仪器规格
XRF-2020L型:测量样品长宽55cm,高3cm:台面载重3kg
XRF-2020H型:测量样品长宽55cm,高12cm:台载重5kg
仪器全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量
多个准直器可选择：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm
可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换
Microp XRF-2020测厚仪(韩国微先锋）
快速无损测量镀金，镀银，镀锡，镀银，镀镍，镀铜，镀锌镍合金等！
测量原理：
物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。
测量精度
首层：±5%以内
第二层：±8%以内
第三层：±15%以内
测试范围
镀金：0.03-6um
镀钯：0.03-6um
镀镍：0.5-30um
镀锡：0.3-50um
镀银：0.1-50um
镀铬：0.5-30um
镀锌：0.5-30um
镀锌镍合金：0.5-30um
韩国微先锋MicroP XRF-2020镀层测厚仪
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