x射线镀层测厚仪_x-ray_xrf-2000_x荧光镀层测厚仪-上海精诚兴仪器仪表有限公司

韩国Micro Pioneer XRF-2020L测厚仪

通过CCD镜头观察快速无损测试镀层膜厚

如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀锌镍,镀锡...

可测单层,双层,多层,合金镀层

韩国微先锋XRF-2020

可用于测量工件、PCB及五金、连接器、半导体等产品的各种金属镀层的厚度。

只需要10-30秒即可获得测量结果, 小测量面积为直径为0.2mm的圆面积; 测量范围：0-35um;
可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度
可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量

韩国微先锋测量原理：

物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。

韩国Micro Pioneer XRF-2020L测厚仪

检测电子电镀,五金电镀,端子连接器等产品电镀层厚度

测量镀金,镀银,镀镉,镀锌.镀镍,镀锡.镀铬,镀锌镍等

可广泛使用于电镀生产企业及成品来料检测

方便更有效控制产品电镀层厚度及品质。

可用于测量工件：PCB及五金工件、连接器端子接插件、半导体产品等各种金属镀层厚度。

测量时间只需要10-30秒即可获得测量结果, 可测量直径为0.2mm的产品。

测量范围：0.03-35um;
测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度
通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积进行镀层厚度的测量

仪器全自动台面

自动雷射对焦,多点自动测量

多个准直器可选择：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm

可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换

快速无损测量电镀层厚度

X-RAY膜厚仪，X射线镀层测厚仪，电镀层测厚仪,X光测厚仪，电镀膜厚仪