x射线镀层测厚仪_x-ray_xrf-2000_x荧光镀层测厚仪-上海精诚兴仪器仪表有限公司

韩国电镀测厚仪MicropioneerXRF-2000

XRF-2020镀层测厚仪

工作原理：

X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。

测量镀层等金属薄膜的厚度

因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右

所以不会对样品造成损坏。

同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。

可测量镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍，镀锌镍合金等

可测单镀层、双镀层、多镀层、合金镀层等，不限底料

单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等

双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等

多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等合金镀层：
铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等

型号规格如下图所示

韩国电镀测厚仪MicropioneerXRF-2000

XRF-2020镀层测厚仪

规格型号如下图

韩国MicroPioneer镀层测厚仪

检测电子电镀,五金电镀,PCB板，LED支架半导体连接器等电镀层厚度。
测量镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍，镀锌镍合金等
可测单层、双层、多层、合金镀层测量，不限底料

仪器全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量。

工作原理：

通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。

测量金属镀层的厚度