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产品名称:Micro Pioneer XRF-2000膜厚仪

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产品特点:韩国Micro Pioneer XRF-2000膜厚仪
测量电子电镀,化学电镀层厚度,
如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯,镀锡...
可测单层,双层,多层,合金镀层

Micro Pioneer XRF-2000膜厚仪的详细资料:


XRF-2000膜厚仪


原产地:韩国

功能及应用:量镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀铜,镀锡,镀钯等

可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层等。


XRF-2000膜厚仪精度


表层:±5%以内

第二层:±8%以内

第三层:±15%以内


XRF-2000膜厚仪测试范围  


Au 0.03-4um

Ag  0.03-25um


Ni 0.05-20um

Ni-P 0.05-20um


Sn 0.05-80um


Cr  0.05-20um

Zn  0.05-20um


ZnNi:0.05-20um

SnCu:0.05-20um


Micro Pioneer

XRF-2000膜厚仪配置

全自动台面

自动雷射对焦

多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品)


测量样品高度3cm  10cm  15cm  20cm 四种规格可选

测量样品长宽均为55cm  

可测试单层,双层,多层及合金镀层厚度

Micro Pioneer XRF-2000膜厚仪


测量镀种为:镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀、镀锡、镀镍,镀锌镍合金等



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