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产品名称:铜上镀银X射线膜厚仪

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产品特点:X射线电镀层测厚仪韩国Micro pioneer XRF2000
检测电子及五金电镀,化学电镀层厚度
主要检测:镀金,镀银,镀镍,镀铜,镀锌,镀锡,及各种合金镀层等
铜上镀银X射线膜厚仪

铜上镀银X射线膜厚仪的详细资料:

铜上镀银X射线膜厚仪

 

韩国XRF-2000X光镀层测厚仪

 

韩国XRF-2000X光镀层测厚仪

测量镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀铜,镀锡,镀钯等

 可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层等。

 

XRF-2000镀层测厚仪共三款型号

不同型号功能一样

机箱容纳样品大小有以下不同要求

 

XRF-2000镀层测厚仪型号介绍

XRF-2000镀层测厚仪H型:测量样品高度不超过10cm

XRF-2000电镀测厚仪L型:测量样品高度不超过3cm

 

XRF-2000电镀膜厚仪PCB型:测量样品高度不超3cm

 

仪器功能

 全自动台面

自动雷射对焦

多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品)

测量样品高度3cm 10cm 15cm 20cm 以内四种规格可选

镀层厚度测试范围:0.03-35um

可测试单层,双层,多层及合金镀层厚度

每层镀层都可分开显示各自厚度.

测量时间:10-30秒

 

韩国XRF2000X光镀层测厚仪精度控制:
     
*层:±5%以内
第二层:±8%以内
第三层:±15%以内

 

铜上镀银X射线膜厚仪

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