x射线镀层测厚仪_x-ray_xrf-2000_x荧光镀层测厚仪-上海精诚兴仪器仪表有限公司

X射线电镀镀层无损测厚仪

韩国Micro Pioneer 先锋XRF-2000测厚仪

检测电镀层厚度，可检测镀金，镀银，镀镍，镀锡，镀锌，镀铬，镀钯等
可测量单镀层，双镀层，多镀层及合金镀层

单镀层：如铜上镀镍，铜上镀银，铜上镀锡，铁上镀镍等，不限底材
双镀层：铜上镀镍镀金，铁上镀铜镀镍等
多镀层：铁上镀铜镀镍镀银，铜上镀镍镀钯镀金等
合金镀层：铜上镀锌镍等

XRF-2000X射线电镀镀层无损测厚仪

仪器配置
全自动台面

自动雷射对焦

多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品）
测量样品高度不超过3cm(亦有10CM可选)
镀层厚度测试范围：0.04－35um
可测试单层，双层，多层及合金镀层厚度
每层镀层都可分开显示各自厚度.
测量时间：15秒
 

韩国Micro Pioneer XRF-2020镀层测厚仪测试范围   

镀金：0.03-6um

镀钯：0.03-6um

镀镍：0.5-30um

镀锡：0.3-50um

镀银：0.1-50um

镀铬：0.5-30um

镀铜：0.5-30um

镀锌：0.5-30um

镀锌镍合金：0.5-30um

韩国先锋XRF-2020测厚仪应用：

检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度

可测量镀金,镀银.镀锌.镀镍,镀锡.镀铬,镀锌镍等

可测试单镀层，双镀层，多镀层及合金镀层厚度