x射线镀层测厚仪_x-ray_xrf-2000_x荧光镀层测厚仪-上海精诚兴仪器仪表有限公司

韩国XRF-2000L测厚仪：测量电子元器件,端子，电子电镀等

韩国微先锋XRF-2000镀层测厚仪

检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...

仪器功能

全自动台面
 

自动雷射对焦

多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品）

测量样品高度不超过3cm(亦有12CM可选)

镀层厚度测试范围：0.03－35um

可测试单层，双层，多层及合金镀层厚度

每层镀层都可分开显示各自厚度.

测量时间：10－30秒
 

精度控制：

表层：±5%以内，第二层：±10%以内,第三层：±15%以内

XRF-2000电镀测厚仪

可测单层,双层,多层,合金镀层

测量范围:0.0３-35um

测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度

全自动台面,自动雷射对焦，操作非常方便简单

XRF2000镀层测厚仪

提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析

不单性能*,而且价钱*

同比其他牌子相同配置的机器

XRF2000为您大大节省成本。

只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果

甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台

镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台

可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业。

可测量各类金属层、合金层厚度等。

可测元素范围：钛（Ti） – 铀（U）  原子序 22 – 92

准直器：固定种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm

自动种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型0.05×0.4mm

电脑系统：液晶显示器，彩色打印机

综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析 统计功能

韩国XRF-2000L测厚仪：测量电子元器件,端子，电子电镀等