x射线镀层测厚仪_x-ray_xrf-2000_x荧光镀层测厚仪-上海精诚兴仪器仪表有限公司

QmaxCIMS1000特性阻抗检测仪

是一种新型的用于PCB和线缆测试的特性阻抗测试仪器。该仪器利用电路中L/C回路来测定，并根据基本公式Zo=Sqrt（L/C）来计算实际阻抗值。
另外，QmaxCIMS1000还能够给用户提供线速和线宽等信息。这些信息对于PCB板的设计来讲非常重要，这样你就可以避免由于线路过载而导致PCB板失效的情况发生。
我们可以测试一下，比如在每15cm线路上设置一个C=20pF和L=50nH的L/C回路，这样我们可以测到50ohm的阻抗，同样的，如果在C=40pF和L=100nH的情况下阻抗也为50ohm，
然而在第二种情况下，你所得到的线只有*种的一半。
 QmaxCIMS1000的规格： 1.特性阻抗测量 2.测量范围：20-150欧姆 3.精度：±1%（根据探针的位置和压力变化不同）
 4.正确度：可根据标准值校准
 5.每次测试时间：成品模式：0.5秒 6.测试形式：单点和多点干扰测量 1.驱动电压：1V 2.用户自定义：dv/dt 3.内阻：50欧姆 4.范围：zui高70db并具有预报功能
PCB线宽和线速的测量（只限于数字方波）线宽预测：从10%到90%的上升时间段内zui大30GHz 电容/电感测量：电容：0.1pF到10nF@0.1pF并具备零点漂浮功能电感：
zui低1nH@1nH 产品特点： 1.极限设定：用户自定义，2级 2.超过极限自动提醒并显示在屏幕上 3.详细数据记录，测量结果存储
4.界面友好方便操作标准探针：单线探针,差动探针,短路探针为标准配件。